2013年全国高考理综卷(新课程1)第37题点评
2015-10-25 21:08:23 来源: 撰稿:董啸 摄影摄像: ; 评论:0 点击:
2013年全国高考理综卷(新课程1)第37题点评
董啸
(陕西省西安市第89中学 710003)
2013年全国高考,陕西、山西、江西、河南、河北、湖南、湖北等省区采用同一理综试卷(新课程1),该卷第37题考查选修3《物质结构与性质》,笔者对此题予以点评。
一、题目:[化学——选修3:物质结构与性质]
硅是重要的半导体材料,构成了现代电子工业的基础。回答下列问题:
(1)基态原子中,电子占据的最高能层符号为 ,该能层具有的原子轨道数为 、电子数为 。
(2)硅主要以硅酸盐、 等化合物的形式存在于地壳中。
(3)单质硅存在与金刚石结构类似的晶体,其中原子与原子之间以
相结合,其晶胞中共有8个原子,其中在面心位置贡献 个原子。
(4)单质硅可通过甲硅烷()分解反应来制备。工业上采用和在液氨介质中反应制得,该反应的化学方程式为 。
(5)碳和硅的有关化学键键能如下所示,简要分析和解释下列有关事实:
化学键 |
C—C |
C—H |
C—O |
Si—Si |
Si—H |
Si—O |
键能/ |
356 |
413 |
336 |
226 |
318 |
452 |
①碳与硅同族,也有系列氢化物,但硅烷在种类和数量上都远不如烷烃多,原因是 。
②的稳定性小于,更易生成氧化物,原因是
。
(6)在硅酸盐中,四面体[如下图(a)]通过共用顶角氧离子可形成岛状、链状、层状、骨架网状四大类结构型式。图(b)为一种无限长单链结构的多硅酸根,其中原子的杂化形式为 ,与O的原子数之比为 ,化学式为 。
二、分析
本题以硅为考点中心,考查了电子层、原子最外层的原子轨道数、电子数;考查了硅在地壳中存在的状态或形式;考查了金刚石的结构(面心上的原子数或面心上原子对晶胞贡献的原子数);完成和的反应方程式;由键能大小讨论硅烷在种类和数量上都远不如烷烃,同样由键能大小说明的稳定性小于,更易生成氧化物;考查原子在多硅酸根中的杂化形式、与O原子数之比及化学式。
题目考查角度较广,但大多较为基础。
第(1)问设问很基础,是第3周期,最高能层是第3层,能层符号为M,第三层的原子轨道有s、p、d轨道,其轨道数为1+3+5=9个,处于ⅣA族,最外层电子数为4。
第(2)问考查硅在地壳中主要以化合态形式存在,具体以硅酸盐及二氧化硅等化合物的形式存在。
第(3)问实际考查金刚石的结构。教材上给出了金刚石的晶胞图,在金刚石的立方晶胞示意图中,8个C原子位于立方体的顶点、6个位于面心、4个位于立方体内。顶点上的位置贡献晶胞个C原子,面心上的位置贡献晶胞个C原子,立方体内贡献晶胞4个C原子,一个晶胞共有8个C原子。原子与原子之间以共价键结合。
第(4)问说明单质硅可通过甲硅烷分解反应来制备,而可通过和在液氨介质中反应制得。反应物为和、产物为,其反应方程式为:
第(5)问给出的六种键能为两组键能——C组和组,相对的键能进行比较,就可回答题中的问题。
为什么烷烃的种类多、数量多?由于C—C、C—H键的键能较大(对比Si—Si、Si—H键能),所形成的烷烃稳定,这样烷烃的种类和数量就多。相对应的,硅烷中Si—Si、Si—H键的键能较小,尤其Si—Si键容易断裂,导致长链硅烷难形成。
比较与的稳定性以及更易生成氧化物。这是由于C—H键的键能大于C—O键的键能,C—H键比C—O键稳定;而Si—H键的键能小于Si—O键的键能,即键稳定性小于Si—O键,Si—H键倾向于稳定性更强的Si—O键。
(6)图(b)中的原子的杂化形式等同于图(a)中的杂化形式,在(a)与(b)图中,原子均位于四面体中心,原子采用杂化。在图(b)中,多硅酸根的长单链结构“重复单元”是什么?从图上可以看出其“重复单元”为,该“重复单元”的化学式为“”或,则无限长单链结构为或。
三、参考答案
(1)M 9 4
(2)二氧化硅
(3)共价键 3
(4)
(5)①C—C键和C—H键较强,所形成的烷烃稳定。而硅烷中Si—Si键和Si—H键的键能低,易断裂,导致长链硅烷难以生成。
②C—H键的键能大于C—O键,C—H比C—O键稳定;而Si—H键的键能却远小于Si—O键,所以Si—H键不稳定而倾向于形成稳定性更强的Si—O键。
(6) 1:3 (或)
四、点评
本题考查物质结构与性质模块的内容,题目考查的视野开阔,题目所设6问由简易到有些难度。第(1)(2)(3)(4)问相对简单,只有第(3)问中,考查了金刚石的晶胞结构,学生要熟悉其晶胞结构内原子的位置关系,设问相对简单,只问了其立方晶胞的面心上的原子数目,或面心上原子对晶胞的贡献,也就是“折算率”。
第(5)问给出了碳和硅的有关化学键的键能,这些键能实则是对应的两组键能,主要看键能的大小,学生要有键能大就稳定的化学意识。再对问题用相应的键能进行回答。①问中的核心是“硅烷在种类上和数量上都远不如烷烃多”,就要比较C—C键与Si—Si键、C—H键与Si—H键,尤其是Si—Si键比C—C键小得多,说明Si—Si键易断裂,导致长链硅烷难以生成。②问中的稳定性小于,由于C—H键的键能大于Si—H键的键能;而易成氧化物,由于Si—H键的键能比Si—O键的键能小得多,Si—H键转向Si—O键的趋势较大。相反,C—H键的键能大于C—O键的键能,前者转向后者的趋势就小。
第(6)问中,对于结构图,学生会知道其中原子采用杂化形式,而学生也知道与中,原子的杂化形式是一样的,因而学生容易知道多硅酸中的原子的杂化形式。从图(b)中,如何确定与O原子数之比?看长链图时,少算一端就容易看出“重复单元”为“”,进而知道多硅酸根中与O原子数之比为1:3,化学式为(简约为)。第②问中学生易错之处是看不懂图(b)中的“重复单元”,把“重复单元”误认为“”。
本题从考查层次来看,有识记层次,也有理解层次;有数据分析,也有空间想象;有原子、分子、化合物,也有长链大分子。题目基本上紧扣教材,没有超越教材,难度适中,学生也容易上手。该题考点多些,考查的细致但不偏不难,形式上有所创新,有别于往年的题目类型。
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